Apparatus for measuring, at several positions, the microwave...

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G - Physics

01

N

324/30

G01N 22/02 (2006.01) G01N 22/00 (2006.01) G01R 29/08 (2006.01)

Patent

CA 1304781

Abrégé Dispositif de mesure, en une pluralité de points, du champ micro-onde diffracté par un objet. Une source (2) de rayonnement micro-onde illumine un objet (1). Des antennes doublets électriques (3) chargées par des diodes (4) sont disposées en ligne sur le trajet du rayonnement diffracté par l'objet (1). Une structure de guidage (5), pourvue d'antennes de couplage (55) est disposée le long de la ligne d'antennes doublets (3), et collecte le rayonnement diffracté. Des circuits électro- niques (6, 1, 8) commandent l'ensemble pour mesurer le champ diffracté à l'emplacement de chaque antenne doublet (3). Le dispositif s'applique au contrôle non-destructif d'objets, de matériaux ou de produits industriels en défilement, par exemple, ainsi qu'aux tests de systèmes rayonnants. (Fig. 1).

564742

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