G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/3185 (2006.01) G01R 31/317 (2006.01)
Patent
CA 2388498
A circuit for parametric testing of I/O's including bidirectionals includes logic (100) which ties the I/O's into a single test chain. A pulse is applied moved down the chain to test the switching levels of the input buffers (132, 134, 142, 146) and the output buffers (136, 138, 144, 148). The circuit features the ability to program the bidirectionals (192-194, 196-198) as either inputs (test mode 1) or outputs (test mode 2) and so allows for its input and output buffers to be tested. The test mode can be selected simply by writing to an externally accessed data register.
Cette invention concerne un circuit pour essai paramétrique d'entrées/sorties à lignes bidirectionnelles comprenant une logique (100) qui réunit les entrées et sorties en une chaîne d'essai unique. Une impulsion est appliquée dans le sens descendant de la chaîne pour vérifier les niveaux de commutation des tampons d'entrée (132, 134, 142, 146) et des tampons de sortie (136, 138, 144, 148). Le circuit se caractérise en ce qu'il permet de programmer les bidirectionnelles (192-194, 196-198) soit comme entrées (mode d'essai 1), soit comme sorties (mode d'essai 2) et, par là même, de tester ses tampons d'entrée et de sortie. Pour la sélection du mode d'essai, il suffit d'écrire à un registre de données auquel on accède de l'extérieur.
Atmel Corporation
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1407966