Programmed electron flux

Details Programmed electron flux Programmed electron flux

H - Electricity

01

J

H01J 49/42 (2006.01) H01J 49/02 (2006.01) H01J 49/38 (2006.01)

Patent

CA 2345384

A quantity of electrons that will be used in the ionization event in an FTICR MS is preprogrammed. When the number of electrons produced reaches that number, the electron beam is turned off. This approach assures that the same number of electrons are used for every measurement and eliminates the variations due to fundamental characteristics of the electron source and the variations in temperature due to changing ambient conditions.

L'invention concerne la préprogrammation d'une quantité d'électrons utilisés lors d'un événement d'ionisation dans un spectromètre de masse à résonance cyclotronique d'ions par transformée de Fourier. Une fois que le nombre d'électrons produit a atteint le nombre désiré, le faisceau d'électrons est désactivé. Ce procédé permet de garantir que le même nombre d'électrons est utilisé pour chaque mesure effectuée et d'éviter des variations dues aux caractéristiques fondamentales de la source d'électrons, ainsi que des variations de température consécutives à un changement des conditions ambiantes.

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