G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 25/48 (2006.01) G01K 17/08 (2006.01)
Patent
CA 2597405
A differential scanning calorimeter apparatus (100) includes reference and sample cells (8, 10) and controlled temperature shields (24). The temperature of the shields is controlled such that baseline curvature is reduced by eliminating heat flow from the furnaces to their surroundings (quasi adiabatic conditions) and by controlling heat flow through a well defined solid state heat resistance between the furnaces and a temperature controlled heat sink. The temperature of each shield can be controlled independently to reduce differential heat flow over the whole temperature range of the scan, or maintained at a constant temperature for conventional power compensated DSC operation. The temperature/time profile for each shield can be controlled according to actual furnace temperature, obtained from an empty run, or stored in the computer memory and recalled for sample measurements.
L'invention concerne un appareil de calorimétrie à compensation de puissance (100) comprenant des cellules de référence et d'échantillon (8, 10) et des écrans à température régulée (24). La température des écrans est régulée de manière que l'incurvation de la ligne de base soit réduite par élimination du flux thermique provenant des fourneaux à proximité de ceux-ci (conditions quasi adiabatiques) et par régulation du flux thermique dans une résistance thermique à l'état solide bien définie entre les fourneaux et un puits thermique à température régulée. La température de chaque écran peut être régulée de manière indépendante afin de réduire le flux thermique différentiel sur l'ensemble de la gamme de températures du balayage ou maintenue à une température constante pour l'opération classique DSC à compensation de puissance. Le profil de température/temps pour chaque écran peut être commandé en fonction de la température réelle des fourneaux, obtenue à partir d'une exécution à vide ou stockée dans la mémoire de l'ordinateur et réutilisée pour des mesures de l'échantillon.
Hicks Intellectual Property Law
Perkinelmer Las Inc.
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1556113