G - Physics – 01 – J
Patent
G - Physics
01
J
G01J 5/24 (2006.01) H04N 5/21 (2006.01) H04N 5/33 (2006.01)
Patent
CA 2451463
A method and apparatus to reduce undesirable deficiencies in an image produced by a microbolometer array including multiple smaller arrays includes applying a separate bias pulse to each of the microbolometers in the smaller arrays and measuring a resulting signal corresponding to the applied bias pulse for each of the microbolometers using multiple measurement circuits associated with the smaller arrays during the frame time. Further, one or more known bias pulses are applied to the measurement circuitry during the frame time, one or more resulting calibration signals are measured, an offset parameter for each of the smaller arrays based on the corresponding measured resulting calibration signals is computed, and the measured resulting signal is corrected using the associated computed offset parameter to produce an output signal that reduces the undesirable deficiencies in the image produced by the array.
L'invention concerne un procédé et un dispositif destinés à réduire les défauts indésirables dans une image produite par une matrice microbolométrique comprenant plusieurs sous-matrices. Ce procédé consiste à appliquer une impulsion de polarisation séparée sur chacun des microbolomètres dans ces sous-matrices et à mesurer un signal résultant correspondant à l'impulsion de polarisation appliquée pour chacun de ces microbolomètres au moyen de circuits de mesure associés aux sous-matrices pendant la durée d'image. Par ailleurs, ledit procédé consiste à appliquer une ou plusieurs impulsions de polarisation connues sur les circuits de mesure pendant la durée d'image, à mesurer un ou plusieurs signaux d'étalonnage résultants, à calculer un paramètre de décalage pour chacune des sous-matrices sur la base des signaux d'étalonnage résultants correspondants mesurés, puis à corriger le signal résultant mesuré au moyen du paramètre de décalage calculé en vue de produire un signal de sortie réduisant les défauts indésirables dans l'image produite par la matrice.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell International Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1569689