G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 27/04 (2006.01) G01N 27/02 (2006.01) G01R 33/12 (2006.01)
Patent
CA 2505827
A non-contact probe (100) for determining the conductivity of coating materials is disclosed. The probe (10) includes a free running oscillator (40) operating at a selected frequency, a sensor made up of an LC circuit, a detector for detecting a change in the the LC circuit in response to change in the sensor coil (44) induction, and a microprocessor (68) for converting the detected changes in the signal to surface conductivity data. The detector may be a frequency detector that detects changes in the resonant frequency of the LC circuit or the detector may be a magnitude detector that detects changes in the signal magnitude of the LC oscillator (40). The sensor is the coil inductor (44) of the LC circuit. Inductance of the sensor coil is variable depending on conductivity of the material near the sensor coil.
Cette invention a trait à une sonde sans contact servant à mesurer la conductibilité de matériaux d'enduction. Cette sonde est munie d'un oscillateur à oscillation libre fonctionnant à une fréquence choisie, d'un capteur constitué d'un circuit inducteur condensateur (LC), d'un détecteur destiné à détecter tout changement survenant dans le circuit LC en réaction à une modification de l'inductance de la bobine du capteur et d'un microprocesseur convertissant les changements détectés dans le signal en données de conductibilité de surface. Le détecteur, qui peut être un détecteur de fréquence décelant les changements survenant dans la fréquence résonnante du circuit LC, peut également être un détecteur d'amplitude décelant les changements survenant dans l'amplitude du signal de l'oscillateur LC. Le capteur peut être une bobine d'inductance du circuit LC. L'inductance de la bobine du capteur varie selon la conductibilité du matériau se trouvant à proximité de cette bobine.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Northrop Grumman Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1587766