Method for calibrating a mass spectrometer

Details Method for calibrating a mass spectrometer Method for calibrating a mass spectrometer

H - Electricity

01

J

H01J 49/40 (2006.01)

Patent

CA 2453227

A method for calibrating a time-of-flight mass spectrometer is disclosed. The method includes determining the time-of-flight values (56), or values derived from the time of flight values for a calibration substance at each of a plurality of different addressable locations on a sample substrate. Then, one of the addressable locations on the substrate is identified as a reference addressable location. A plurality correction factors are then calculated (60) for the respective addressable locations on the substrate using the time of flight value (62), or a value derived from the time-of-flight value.

L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un spectromètre de masse à temps de vol. Ce procédé comprend les étapes consistant : à déterminer les valeurs de temps de vol (56), ou des valeurs dérivées des valeurs de temps de vol relatives à une substance d'étalonnage, en chacun des emplacements d'une pluralité d'emplacements différents adressables sur un substrat échantillon ; à identifier un des emplacements adressables sur ce substrat comme étant l'emplacement adressable de référence ; puis à calculer (60) une pluralité de facteurs de correction pour chaque emplacement adressable sur le substrat, au moyen de la valeur de temps de vol (62) ou d'une valeur dérivée de ladite valeur de temps de vol.

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