G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/309 (2006.01)
Patent
CA 2439167
The invention relates to a method and to a device for testing electronic circuits or the parts thereof on printed circuits. The inventive method comprises the following steps: (a) detecting the radiation that is emitted by the surface of the printed circuit, (b) converting the detected radiation to data that represent a surface structure and/or depth structure of the printed circuit, (c) comparing the data of the surface structure and/or the depth structure with stored data of a desired state of the surface structure and/or depth structure, and (d) determining any deviations between the data of the detected surface structure and/or depth structure and the data of the desired state of the surface structure and/or depth structure.
La présente invention concerne un procédé et un dispositif servant à vérifier des circuits électroniques ou des parties de ceux-ci sur des cartes de circuits imprimés. Pour permettre une vérification sans contact pour un dispositif de structure simple, le procédé de l'invention comprend les étapes suivantes : (a) détection d'un rayonnement issu d'une surface de la carte de circuits imprimés ; (b) conversion du rayonnement détecté en données qui représentent une structure de surface et/ou une structure interne de la carte de circuits imprimés ; (c) comparaison des données de structure de surface et/ou de structure interne avec des données enregistrées correspondant à un état théorique de structure de surface et/ou de structure interne ; et (d) détermination des différences entre les données de structure de surface et/ou de structure interne détectées et les données de l'état théorique de structure de surface et/ou de structure interne.
Reisinger Werner
Ridout & Maybee Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1664888