H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/48 (2006.01) H01J 49/02 (2006.01) H01J 49/32 (2006.01)
Patent
CA 2056424
The invention typically provides a double focusing mass spectrometer comprising an ion source (55), an ion momentum analyzer (56), a multichannel detector (58) and a multielectrode electrostatic ion-energy analyzer (57), wherein the energy dispersing field is generated by arrays of electrodes disposed in groups above and below the ion beam. By appropriate selection of the potentials applied to the electrodes, the focusing properties of the analyzer can be changed, allowing different extents of the mass spectrum to be accurately focused on the face of the detector (58) as it is tilted by the actuator (61) at different angles to the ion beam (64) emerging from the analyzer (57). This enables the spectrometer to simultaneously record either a small part of a mass spectrum at high resolution or a larger part at a lower resolution. Alternative arrangements of the detector which allow a similar result to be obtained arc also disclosed.
L'invention prévoit généralement un spectromètre de masse à foyer double comprenant une source d'ions (55), un analyseur pour énergie cinétique d'ions (56), et un détecteur à canaux multiples (58). Ledit spectromètre comprend également un analyseur électrostatique (à électrodes multiples) pour analyser l'énergie des ions (57), dans lequel des réseaux d'électrodes, disposés en groupes au-dessus du faisceau ionique et au-dessous de celui-ci, créent le champ de dispersion d'énergie. En appliquant une sélection appropriée des potentiels de l'analyseur, aux électrodes, une modification des propriétés de focalisation dudit analyseur peut s'effectuer. Ceci permet de focaliser, de façon précise, des étendues différentes du spectre de masse sur la surface du détecteur (58) lors de son inclinaison, par l'intermédiaire de l'activateur (61), à des angles différents par rapport au faisceau ionique (64) provenant de l'analyseur (57). Le spectromètre peut ainsi enregistrer simultanément soit une petite partie d'un spectre de masse à haute définition, soit une plus grande partie à une définition moins élevée. Des agencements en variante du détecteur, permettant d'obtenir un résultat semblable, sont également décrits.
Bateman Robert Harold
Fetherstonhaugh & Co.
Micromass Uk Limited
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1667895