G - Physics – 06 – K
Patent
G - Physics
06
K
G06K 5/04 (2006.01)
Patent
CA 2628268
A tester for testing high-speed serial transceiver circuitry. The tester includes a jitter generator that uses a rapidly varying phase-selecting signal to select between two or more differently phased clock signals to generate a phase-modulated signal. The phase- selecting signal is designed to contain low- and high-frequency components. The phase-modulated signal is input into a phase filter to filter unwanted high-frequency components. The filtered output of the phase filter is input into a data-transmit serializer to serialize a low-speed parallel word into a high-speed jittered test pattern forinput into the transceiver circuitry.
L'invention concerne un testeur pour tester une circuiterie d'émetteur/récepteur en série à haute vitesse. Ce testeur comprend un générateur de gigue qui fait appel à un signal de sélection de phase à variation rapide pour sélectionner des signaux parmi au moins deux signaux d'horloge présentant des phases différentes, pour générer un signal à phase modulée. Le signal de sélection de phase est conçu pour contenir des composants basse fréquence et haute fréquence. Le signal à phase modulée est entré dans un filtre de phase pour filtrer des composants haute fréquence non voulus. La sortie filtrée de filtre de phase est entrée dans un convertisseur parallèle/série de transmission de données pour convertir un mot parallèle de faible vitesse en une pré-entrée de motif test de gigue haute vitesse destinée à être entrée dans la circuiterie de l'émetteur/récepteur.
Hafed Mohamed M.
Laberge Sebastien
Pishdad Bardia
Tam Clarence K.l.
Dft Microsystems Inc.
Stikeman Elliott Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1719181