Anisotropic parameter determination

G - Physics – 01 – V

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

G01V 1/40 (2006.01) G01V 1/16 (2006.01) G01V 1/30 (2006.01)

Patent

CA 2744044

A walkaway VSP survey is carried out using a receiver array. First arrivals to a plurality of receivers are picked and used to estimate a normal-moveout (NMO) velocity. Using the NMO velocity and vertical velocities estimated from the VSP data, two anisotropy parameters are estimated for each of the layers. The anisotropy parameters may then be used to process sur-face seismic data to give a stacked image in true depth and for the interpretation purposes. For multi-azimuthal walkaway nr 3D VSP data, we determipp tw.pi. VTT parameters .epsilon. and .delta. for multi- azimuth vertical planes. Then we determine five anisotropic inter-val parameters that describe P-wave kinematics for orthorhombic layers. These orthorhombic parameters may then be used to pro-cess surface seismic data to give a stacked image in true depth and for the interpretation purposes.

L'invention concerne une étude PSV autonome réalisée à l'aide d'un réseau de récepteurs. Les premières arrivées sur une pluralité de récepteurs sont choisies et utilisées afin d'estimer une vitesse d'obliquité (NMO). L'utilisation de la vitesse NMO et des vitesses verticales estimées à partir des données PSV permet d'estimer deux paramètres anisotropes pour chacune des couches. Les paramètres anisotropes peuvent alors être utilisés pour traiter des données sismiques de surface afin de donner une image empilée en profondeur réelle et à des fins d'interprétation. Pour des données multi-azimuts ou des données PSV en 3D, nous avons déterminé deux paramètres VTT e et d pour des plans verticaux multi-azimuts. Nous avons ensuite déterminé cinq paramètres d'intervalle anisotropes qui décrivent des cinématiques d'onde P pour des couches orthorhombiques. Ces paramètres orthorhombiques peuvent alors être utilisés pour traiter des données sismiques de surface pour donner une image empilée en profondeur réelle et à des fins d'interprétation.

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Anisotropic parameter determination does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Anisotropic parameter determination, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Anisotropic parameter determination will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-1745745

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.