G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 21/06 (2006.01) G01N 21/84 (2006.01)
Patent
CA 2562166
An apparatus and method allowing an optimized illumination in a light profile microscope by excitation of a sample with an elliptically collimated beam. The beam, which is typically supplied by a laser, is collimated with unequal beam waist radii (and Rayleigh ranges) along major and minor axes orthogonal to a propagation direction, and approximates a plane sheet of illumination. The plane sheet of illumination is aligned with a thinnest width dimension thereof along the optic axis of the microscope objective, and with a center thereof at the object plane of the objective. Excitation light in a test sample is thereby confined to within a narrow thickness of the object plane of the objective lens, which minimizes out-of-focus light in the image. The major axis width of the plane illumination sheet is typically a factor of ten or more greater than the minimum width, allowing a large area of the test sample to be illuminated and imaged. This excitation arrangement optically emulates the operation of micro-toming a thin cross section of a material for analysis, and provides optimum resolution and field in a light profile microscope.
L'invention porte sur un appareil et un procédé assurant un éclairage optimal dans un microscope à profil de lumière en excitant l'échantillon par un faisceau à collimation elliptique. Ledit faisceau, normalement fourni par un laser, présente des rayons inégaux au niveau du col (et des plages de Rayleigh) le long de son grand axe et de son petit axe, orthogonaux à la direction de propagation, et constitue un plan mince d'éclairage alignée sur sa largeur la plus mince le long de l'axe optique de l'objectif du microscope et centrée sur le plan objet de l'objectif. La lumière d'excitation de l'échantillon est ainsi confinée dans l'épaisseur étroite du plan objet de l'objectif ce qui réduit les l'éclairage hors foyer de l'image. La largeur du grand axe du plan mince d'éclairage est normalement au moins dix fois celle du petit axe ce qui permet d'éclairer et d'imager une grande partie de l'échantillon. Ce mode d'excitation émule optiquement l'opération de microtomie d'une mince section transversale du matériau à analyser et fournit une résolution optimale et un champ optimal dans un microscope à profil de lumière.
Lesperance & Martineau S.e.n.c.
Power Joan F.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1776087