H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 49/14 (2006.01) H01J 27/20 (2006.01)
Patent
CA 2545534
An ion source for use in a mass spectrometer includes an electron emitter assembly (30) configured to emit electron beams, wherein the electron emitter assembly comprises carbon nanotube bundles fixed to a substrate for emitting the electron beams, a first control grid configured to control emission of the electron beams, and a second control grid configured to control energies of the electron beams; an ionization chamber (34) having an electron-beam inlet (38) to allow the electron beams to enter the ionization chamber, a sample inlet for sample introduction, and an ion-beam outlet (29) to provide an exit for ionized sample molecules; an electron lens (31) disposed between the electron emitter assembly and the ionization chamber to focus the electron beams; and at least one electrode (37) disposed proximate the ion-beam outlet to focus the ionized sample molecules exiting the ionization chamber.
L'invention concerne une source ionique utilisée dans la spectrométrie de masse qui comprend un ensemble émetteur d'électrons conçu de manière à émettre des faisceaux d'électrons, cet ensemble émetteur d'électrons comprenant des faisceaux de nanotube de carbone fixés à un substrat en vue d'émettre des faisceaux d'électrons, une première grille de commande conçue de manière à commander l'émission des faisceaux d'électrons, et une seconde grille de commande conçue de manière à commander les énergies des faisceaux d'électrons; une chambre d'ionisation possédant une entrée de faisceau d'électrons afin de permettre aux faisceaux d'électrons d'entrer dans la chambre d'ionisation, une entrée d'échantillons destinée à l'introduction d'échantillons et une sortie de faisceau ionique en vue de fournir une sortie pour les molécules d'échantillon ionisées; une lentille électronique placée entre l'ensemble émetteur d'électrons et la chambre d'ionisation afin de focaliser les faisceaux d'électrons; et au moins une électrode placée à proximité de la sortie du faisceau ionique afin de focaliser les molécules d'échantillon ionisées sortant de la chambre d'ionisation.
Traynor Peter J.
Wright Robert G.
Borden Ladner Gervais Llp
Thermo Electron Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1807759