Method for finding the reflectivity of reflectors

G - Physics – 01 – V

Patent

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G01V 1/28 (2006.01) G01V 1/36 (2006.01)

Patent

CA 2410272

Method for solving the classical inversion problem of finding the angle dependent reflection coefficients along selected reflectors in the subsurface. The input data to the method include seismic constant offset or constant angle data cubes from Pre-Stack Depth Migration of Kirchhoff type and the corresponding reflectors and velocities from the interpretation and velocity analysis of the data. One or more of the reflectors are chosen and ray modeling is done to create synthetic seismics for all shot/receiver pairs in the seismic survey. Based on these modeling results, amplitude correction maps are made for the various reflection angles. These correction maps are applied to the amplitudes from the seismic data. The corrected amplitudes are approximations to the angle-dependent reflection coefficients in all points on each selected reflector. For each point, a weight function is computed, giving the quantitative resolution of the estimate of the reflection coefficient.

L'invention porte sur un procédé visant à résoudre le problème d'inversion classique de calcul de coefficients de réflexion en fonction d'un angle le long de réflecteurs sélectionnés se trouvant dans la subsurface. Les données d'entrée sont essentiellement des cubes de données sismiques d'angle ou de décalage de constante dérivés de la migration profondeur avant sommation de type Kirchhoff et des réflecteurs correspondants, et les vitesses dérivées de l'interprétation et de l'analyse de la vitesse des données. Un ou plusieurs réflecteurs sont sélectionnés et une modélisation des rayons est effectuée pour créer des phénomènes sismiques synthétiques pour tous les couples de tirs/récepteurs de l'exploration sismique. Sur la base des résultats de modélisation, des corrections d'amplitude sont effectuées sur les divers angles de réflexion. Ces corrections sont appliquées aux amplitudes sur la base des données sismiques. Les amplitudes corrigées sont des approximations des coefficients de réflexion dépendant d'un angle dans tous les points de chaque réflecteur sélectionné. Pour chaque point, une fonction pondérale est calculée, donnant la résolution quantitative du calcul du coefficient de réflexion.

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