G - Physics – 01 – G
Patent
G - Physics
01
G
G01G 23/01 (2006.01) D21H 19/02 (2006.01) G01G 17/02 (2006.01)
Patent
CA 2747215
An improved differential coat weight technique employs a novel algorithm for measuring the weight of a coating material that has been deposited onto a sheet of substrate. The invention employs dual x-ray or nuclear gauges such that, even though the downstream sensor is never exposed to uncoated sheet substrate, imparting the downstream sensor with the ability to predict results that it would have yielded when measuring the uncoated sheet substrate, leads to the development of a coat weight calibration protocol from which the basis weight of the coating can be ascertained directly from measurements from the upstream and downstream sensors. No subtraction of results is required. Moreover, the two sensors do not need to be re-calibrated whenever the relative proportions of the coating and base substrate change. The technique is particularly suited for applications where the coating material and substrate are made of substances that have very different atomic numbers.
L'invention concerne une technique différentielle améliorée utilisant un nouvel algorithme pour mesurer le poids d'un matériau de revêtement déposé sur une feuille de substrat. L'invention utilise des jauges doubles à rayons X ou nucléaires, de sorte que même si le capteur en aval n'est jamais exposé à une feuille de substrat non revêtue, le fait de conférer au capteur en aval la capacité de prédire les résultats qu'il aurait pu donné lors de la mesure la feuille de substrat non revêtue aboutit au développement d'un protocole d'étalonnage du poids du revêtement à partir duquel le poids de base du revêtement peut être établi directement à partir des mesures des capteurs en amont et en aval. Aucune soustraction de résultats n'est nécessaire. De plus, les deux capteurs n'ont pas besoin d'être réétalonnés à chaque fois que les proportions relatives du revêtement et du substrat de base changent. La technique est particulièrement appropriée pour des applications où le matériau de revêtement et le substrat sont faits de substances ayant des numéros atomiques très différents.
Drees Reena Meijer
Hofman Gertjan
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell Asca Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1843914