G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 19/16 (2011.01) C12Q 1/68 (2006.01)
Patent
CA 2672163
Supposing a frame (F) having a definite short length (L2) on a transcript, the frame (F) is shifted finely stepwise at constant intervals (t). Thus, the structures in the individual micro sections are successively analyzed and the first probability in a specific secondary structure at a specific position in each micro section is determined. Next, one or more specific positions clarified in the individual micro sections are correspondingly located on the original transcript and the degree of the overlap between the individual specific positions is referred to as the second probability. By paying attention to these two probabilities, it can be estimated at an elevated reliability whether or not a desired secondary structure occurs in practice in an RNA such as an mRNA.
Cette invention propose de supposer qu'un cadre (F) ayant une courte longueur définie (L2) sur un produit de la transcription, le cadre (F) est finement décalé pas à pas à intervalles constants (t). Ainsi, les structures dans les micro sections individuelles sont analysées de façon successive et la première probabilité dans une structure secondaire spécifique à une position spécifique dans chaque micro section est déterminée. Ensuite, une ou plusieurs positions spécifiques clarifiées dans les micro sections individuelles sont disposées de façon correspondante sur le produit de transcription initial et le degré du chevauchement entre les positions spécifiques individuelles est désigné comme étant la seconde probabilité. En prêtant attention à ces deux probabilités, on peut estimer, avec une fiabilité élevée, si une structure secondaire voulue apparaît ou non en pratique dans un ARN tel qu'un ARNm.
Nakamura Shingo
Fetherstonhaugh & Co.
Takeda Pharmaceutical Company Limited
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1894496