G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2250748
A system with three parts: a testing apparatus, a computer system, and a communications line between the two. The testing apparatus has a device that emits X-rays into the sample, a device to position the sample relative to the x-rays and an electro-optical x-ray detector for detecting diffracted x-rays. The computer system has a computer, a computer program, a storage device, a database, and monitor or other means of announcing the results of a test. The computer program directs the computer to accept data from the sample testing system concerning the relationships of the devices, the x-rays, and diffracted x-rays. The computer program also directs the computer to compare this data with a database of previously determined relationships and possible diffraction patterns stored in the storage device. Based on the comparison, the computer program directs the computer to announce the results of the comparison via the monitor or other means, thereby revealing the crystallographic grain structures of the sample. The method encompasses positioning the sample in a path of x-rays projecting from an x-ray means, detecting x-rays that are diffracted by the sample with an electro-optical detector, analyzing the data and announcing the crystallographic grain structures of the sample based on the analyzing step.
Cette invention concerne un système composé de trois parties: un appareil de contrôle, un dispositif informatique et une ligne de communications reliant ces deux dispositifs. Ledit appareil de contrôle comporte un dispositif qui émet des rayons X à l'intérieur d'un échantillon, un dispositif de positionnement de l'échantillon par rapport aux rayons X et un détecteur électro-optique de rayons X conçu pour détecter des rayons X diffractés. Ledit dispositif informatique comporte un ordinateur, un programme, un dispositif de stockage, une base de données et un écran de contrôle ou organe analogue permettant la diffusion des résultats d'un contrôle. Ledit programme gère l'acceptation par l'ordinateur des données issues de l'appareil de contrôle de l'échantillon et relatives aux relations entre les dispositifs, les rayons X et les rayons X diffractés. Ce programme gère aussi la comparaison par l'ordinateur de ces données avec une base de données de relations préalablement établies et avec des modèles probables de diffraction stockés dans le dispositif de stockage. A la suite de cette comparaison, le programme assure la diffusion de ces résultats par l'intermédiaire de l'écran de contrôle ou d'un organe analogue, et dévoile ainsi les structures granuleuses cristallographiques de l'échantillon. Le procédé de l'invention consiste à positionner l'échantillon sur un trajet des rayons X issus de l'organe à rayons X, à détecter, au moyen d'un détecteur électro-optique, les rayons X qui sont diffractés par l'échantillon, à analyser les données et à donner les résultats de cette analyse concernant les structures granuleuses cristallographiques de l'échantillon.
Roan Der-Yan Frank
Zombo Paul John
Smart & Biggar
Westinghouse Electric Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1908167