Mass spectrometry apparatus and method

H - Electricity – 01 – J

Patent

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Details

H01J 49/26 (2006.01)

Patent

CA 2494309

A mass spectrometer in which a substance is introduced into a plasma (28) which contains analyte ions as the plasma (28) is passing through an aperture (42), for example in a skimmer cone (40) between two vacuum regions (38) and (44) so that the substance interacts with the plasma (28) thereby reducing the concentration of interfering polyatomic or multicharged ions in the plasma by reactive or collisional interactions. The substance may be supplied via passage (60) having an outlet (63) in skimmer cone (40). The invention gives improved attenuation of interfering ions because the substance is supplied directly into the plasma (28) as it is substantially radially confined by aperture (42) and before an ion beam (58) is extracted. Alternatively or additionally a substance may be supplied directly into the plasma within aperture (36) in sampling cone (34).

L'invention concerne un spectromètre de masse dans lequel une substance est introduite dans un plasma (28) qui contient des ions à analyser à mesure que celui-ci passe dans une ouverture (42), par exemple dans un cône de récupération (40) situé entre deux zones sous vide (38) et (44) de façon que la substance interagisse avec le plasma (28), ce qui permet de réduire la concentration d'ions polyatomiques ou multichargés interférants se trouvant dans le plasma par des interactions réactives ou collisionnelles. La substance peut être fournie par l'intermédiaire d'un passage (60) présentant une sortie (63) dans ledit cône de récupération (40). L'invention permet d'améliorer l'atténuation des ions interférants du fait que la substance est fournie directement dans le plasma (28) à mesure que celui-ci est confiné sensiblement de manière radiale par l'ouverture (42) et avant qu'un faisceau ionique ne soit extrait. En variante, ou éventuellement, une substance peut être fournie directement dans le plasma (28) à l'intérieur d'une ouverture (36) dans un cône d'échantillonnage (34).

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