G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/85 (2006.01) B07C 5/342 (2006.01) G01B 11/04 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01)
Patent
CA 2640639
A device (200) for optical measuring of grains for analysis of the quality of said grains, comprises a feeder (102) which is arranged to feed at least one grain (101b) in a direction of transport (107), a light source (105) which is arranged to illuminate said grain (101b) along a line, a detector (108) which is arranged to detect reflection (109) from the surfaces of said grain and an analyzer (111) which is arranged to analyze said detected reflection in order to determine a height profile of the grain along the line and to determine three-dimensional surface topographical information on said grain based on a plurality of determined height profiles as said grain is transported. The device (200) further comprises an arrangement (220) used in generating a two- dimensional image and the analyzer (111) is arranged to determine a quality of said grain based on the three-dimensional surface information and the two- dimensional image of the same grain.
L'invention concerne un dispositif (200) de mesure optique de grains pour l'analyse de la qualité desdits grains, comprenant un chargeur (102) qui est disposé pour introduire au moins un grain (101b) dans une direction de transport (107), une source de lumière (105) qui est disposée pour éclairer ledit grain (101b) le long d'une ligne, un détecteur (108) qui est disposé pour détecter la réflexion (109) depuis les surfaces dudit grain et un analyseur (111) qui est disposé pour analyser ladite réflexion détectée afin de déterminer un profil de hauteur du grain le long de la ligne et de déterminer des informations topographiques de surface en trois dimensions sur ledit grain sur la base d'une pluralité de profils de hauteur déterminés tandis que ledit grain est transporté. Le dispositif (200) comprend en outre une disposition (220) servant à générer une image en deux dimensions et l'analyseur (111) est disposé pour déterminer une qualité dudit grain sur la base des informations de surface en trois dimensions et de l'image en deux dimensions du même grain.
Borden Ladner Gervais Llp
Foss Analytical Ab
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1947340