Dynamic modification of shaping time in x-ray detectors

Details Dynamic modification of shaping time in x-ray detectors Dynamic modification of shaping time in x-ray detectors

G - Physics

01

N

G01N 23/223 (2006.01) G01T 1/17 (2006.01)

Patent

CA 2741366

Methods and apparatus for adapting the shaping time and/or other pulse processing parameters of an x-ray detector (114) in accordance with the elemental composition of a sample and/or energy resolving requirements. X-rays (104) are directed from a source (102) onto a sample (110) and the radiation (108) responsively emitted from the sample (e.g., fluoresced radiation characteristic of the sample's elemental composition) and detected by an x-ray detector (114) that generates pulses representative of the energy and intensity of the incident radiation. Based upon initial analysis of elemental composition, the shaping time and/or other pulse processing parameter (s) are set to optimize count rate subject to constraints of energy resolution in a spectral region of interest.

L'invention concerne des procédés et un appareil pour adapter le temps de mise en forme et/ou d'autres paramètres de traitement d'impulsion d'un détecteur de rayons X (114) conformément à la composition élémentaire d'un échantillon et/ou des conditions de résolution en énergie. Les rayons X (104) sont dirigés depuis une source (102) sur un échantillon (110) et le rayonnement (108) émis en réponse par l'échantillon (par exemple, rayonnement de fluorescence caractéristique de la composition élémentaire de l'échantillon) est détecté par un détecteur de rayons X (114) qui génère des impulsions représentatives de l'énergie et de l'intensité du rayonnement incident. D'après l'analyse de la composition élémentaire, le temps de mise en forme et/ou un ou plusieurs autres paramètres de traitement d'impulsion sont réglés pour optimiser le taux de comptage sujet à des contraintes de résolution en énergie dans une région spectrale d'intérêt.

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