G - Physics – 01 – S
Patent
G - Physics
01
S
G01S 1/00 (2006.01)
Patent
CA 2585118
A system and method examines the quality of a positioning signal acquisition assistance window of an assisted position location system. The fit of acquisition assistance windows is examined using a posteriori knowledge of specific, or hypothetical, position measurements from a mobile station. A base station almanac manager compares mobile station measurement data to acquisition assistance window data, records an outcome based upon the comparison including a window quality value (W Q), or range of window quality values. Source data used in the generation of acquisition assistance windows is adjusted according to the window quality value.
Cette invention concerne un système et procédé permettant d'examiner la qualité de la fenêtre d'aide à l'acquisition de signal de positionnement. On examine l'adéquation de la fenêtre d'aide à l'acquisition sur la base d'une connaissance à posteriori de mesures de position spécifiques ou hypothétiques émanant d'une station mobile. Un gestionnaire d'almanach de stations de base compare les données de mesure des stations mobiles aux données de fenêtre d'acquisition, enregistre le résultat issu de cette comparaison, dont une valeur de qualité de la fenêtre (W Q), ou bien une plage de valeurs de qualité de fenêtre. Les données source utilisées pour la création des fenêtres d'aide à l'acquisition sont ajustées en fonction de la valeur de qualité de la fenêtre.
Moeglein Mark Leo
Riley Wyatt Thomas
Qualcomm Incorporated
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2027976