G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/04 (2006.01)
Patent
CA 2375181
A method for determining the three-dimensional structure of a low-density material called a soft material not ordered on an atomic scale but ordered on a mesoscale (20 to 500 angstroms), especially by means of a high-resolution transmission microscope. A soft material is imaged by means of a transmission microscope in three or more directions meaningful in crystallography. The image is Fourier-transformed to calculate the amplitude and phase of the crystal structure factor. Fourier inverse transform using the values is carried out and hence a space group of the soft material is determined.
La présente invention concerne un procédé permettant de déterminer la structure tridimensionnelle d'une matière à faible densité, qualifiée de matière souple, répertoriée non pas à l'échelle atomique, mais à moyenne échelle (20 à 500 angströms), notamment au moyen d'un microscope à transmission à haute résolution. Une matière souple est représentée par l'intermédiaire d'un microscope à transmission en trois dimensions ou plus, significatives en cristallographie. L'image est soumise à une transformée de Fourier permettant de calculer l'amplitude et la phase du facteur de structure cristalline. Une transformée de Fourier inverse est réalisée sur les valeurs, et un groupe spatial de la matière souple est ainsi déterminé.
Ohsuna Tetsu
Terasaki Osamu
Japan Science And Technology Agency
Japan Science And Technology Corporation
Marks & Clerk
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2062489