G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 37/00 (2006.01) G01M 99/00 (2011.01) G01N 1/28 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) G01N 29/22 (2006.01) G01N 29/30 (2006.01) G21C 17/00 (2006.01)
Patent
CA 2351590
A method, which is used to make controlled defects corresponding to natural flaws and residual stresses in various kinds of test pieces. Defects identical to natural flaws are required to qualify non-destructive testing (NDT) procedures. In the method, sequential, repeated, heating-cooling cycles are used to create defects and residual stresses. The shape of the heating and cooling pattern, the duration of the heating and cooling, and the number of thermal cycles are used to control the size of the defects and residual stresses obtained. The defect is grown without initial flaw or other nucleator. The defects correspond to natural flaws in terms of morphology and also of the signals obtained with NDT methods, and are suitable for use in, for example, NDT-qualification blocks.
Procédé qu'on utilise pour créer des défauts contrôlés correspondant à des pailles naturelles et à des contraintes résiduelles dans différents types de pièces d'essai. Des défauts identiques à des pailles naturelles sont nécessaires pour qualifier des essais non destructifs (NDT). Ce procédé consiste à mettre en application des cycles séquentiels et répétitifs de réchauffement et de refroidissement afin de créer des défauts et des contraintes résiduelles. On utilise la forme de la configuration de réchauffement et de refroidissement, la durée du réchauffement et du refroidissement et le nombre de cycles thermiques afin de vérifier la dimension des défauts et des contraintes résiduelles obtenus. On crée le défaut sans paille initiale ou autre agent de nucléation. Les défauts correspondent à des pailles naturelles en termes de morphologie et également de signaux obtenus au moyen de procédés d'essais non destructifs et sont appropriés, par exemple, pour être utilisés dans des blocs de qualification d'essais non destructifs (NDT).
Elfving Kai
Hanninen Hannu
Kemppainen Mika
Saarinen Pekka
Virkkunen Iikka
Borden Ladner Gervais Llp
Helsinki University Of Technology
Trueflaw Oy
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1467986