A method for reflection time shift matching a first and a...

G - Physics – 01 – V

Patent

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G01V 1/28 (2006.01)

Patent

CA 2719903

The invention is a method for reflection time shift matching a first and a second set of seismic reflection data (10, 30) comprising first and second seismic reflection traces (1, 3) with series of generally corresponding seismic reflections (11, 31). The first and second sets of seismic data (10, 30) are acquired with a separation in time extending over months or years. The second set of seismic data (30) comprises at least one laterally extending series (40) of new seismic events (4) not present in the first set of seismic data (10). Reflection time shifts (22) are calculated as required for matching seismic reflections (31) of the second reflection traces (3) of the second seismic reflection date (11) of the first reflection traces (1). The calculated time shifts are con-ducted on said second reflection traces (3). The calculation of the time shifts (22) are made by calculating coefficients of basis function estimates.

L'invention porte sur un procédé de mise en correspondance de décalage de temps de réflexion pour un premier et un second ensemble de données de réflexion sismique (10, 30) comportant de premières et secondes traces de réflexion sismique (1, 3) avec une série de réflexions sismiques généralement correspondantes (11, 31). Les premiers et les seconds ensembles de données sismiques (10, 30) sont acquis avec une séparation dans le temps s'étendant sur des mois ou des années. Le second ensemble de données sismiques (30) comporte au moins une série (40) de nouveaux événements sismiques (4), s'étendant latéralement, qui ne sont pas  présents dans le premier ensemble de données sismiques (10). Des décalages de temps de réflexion (22) sont calculés tel que requis pour faire correspondre les réflexions sismiques (31) des secondes traces de réflexion (3) des secondes données de réflexion sismique (11) aux premières traces de réflexion (1). Les décalages de temps calculés sont effectués sur lesdites secondes traces de réflexion (3). Le calcul des décalages de temps (22) est effectué par calcul des coefficients d'estimation de fonction de base.

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