A method of improving a mass spectrum

H - Electricity – 01 – J

Patent

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Details

H01J 49/00 (2006.01)

Patent

CA 2559558

The present invention provides a method of improving a mass spectrum collected from a mass spectrometer comprising a detector for collecting a mass spectrum from ions stored in or released from an ion trapping volume, wherein assignment of masses to peaks appearing in the mass spectrum is sensitive to an experimental parameter related to the mass spectrometer or the operation thereof, such as ion abundance, the method comprising: determining a positional value of a peak; determining the experimental parameter associated with the mass spectrum; comparing the determined positional value with positional values of peaks contained in a calibration dataset; and improving the determined positional value of the peak from adjacent peak positional values by interpolation thereby to provide a corrected mass assignment for the peak. The present invention also provides a method of calibrating such a mass spectrometer.

Cette invention se rapporte à un procédé permettant d'améliorer un spectre de masse recueilli à partir d'un spectromètre de masse comprenant un détecteur servant à recueillir un spectre de masse à partir des ions stockés dans un volume de piégeage d'ions ou libérés à partir d'un tel volume de piégeage d'ions. Dans ce procédé, l'attribution des masses à des crêtes apparaissant dans le spectre de masse est sensible à un paramètre expérimental relatif au spectromètre de masse ou à son fonctionnement, tel que l'abondance des ions. Ce procédé consiste: à déterminer une valeur de position de crête; à déterminer le paramètre expérimental associé au spectre de masse; à comparer la valeur de position déterminée avec les valeurs de position de crêtes contenues dans un ensemble de données d'étalonnage; et à améliorer la valeur de position déterminée de la crête à partir des valeurs de positions de crêtes adjacentes par interpolation, pour produire ainsi une attribution de masse corrigée pour la crête en question. Cette invention concerne également un procédé d'étalonnage d'un tel spectromètre de masse.

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