C - Chemistry – Metallurgy – 12 – Q
Patent
C - Chemistry, Metallurgy
12
Q
C12Q 1/68 (2006.01)
Patent
CA 2428245
Abstract There is disclosed a method to measure the fraction of DNA molecules that ishemi-methylated at a specific CpG dinucleotide in a particular DNA sequence, in a pool of DNA molecules having mixed DNA methylation states at said CpG dinucleotide. There is also disclosed methods to calculate the rates of de novo-, and maintenance-methylation per cell division that occur at said CpG dinucleotide. Additionally, there is disclosed methylation kits for use in measuring and quantitating hemi-methylation, and for calculating the rates of de novo-, and maintenance-methylation.
La présente invention concerne un procédé qui permet de mesurer la fraction de molécules d'ADN qui est semi-méthylée au niveau d'un dinucléotide CpG spécifique, dans une séquence d'ADN particulière, dans un groupe de molécules d'ADN ayant des états de méthylation d'ADN mélangés au niveau dudit dinucléotide CpG; des procédés de calcul des taux de méthylation de novo et d'entretien par division cellulaire qui se produisent au niveau dudit dinucléotide CpG. Cette invention concerne également des trousses de méthylation destinées à être utilisées pour mesurer et quantifier la semi-méthylation et pour calculer les taux de méthylation de novo et d'entretien.
Jones Peter A.
Laird Peter W.
Liang Gangning
Tomigahara Yashitaka
Smart & Biggar
University Of Southern California
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1470481