G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 3/00 (2006.01) G01R 33/44 (2006.01) G01V 3/32 (2006.01) G01R 33/46 (2006.01)
Patent
CA 2393153
A method for enhancing measurement resolution is disclosed. In one embodiment, the method includes (1) obtaining multiple measurement samples at each of multiple positions along a borehole; (2) extracting reference index samples from the set of measurement samples; (3) determining a difference between each of the reference index samples and corresponding modeled index samples; and (4) updating a set of enhanced index samples based on the difference. The index samples are preferably chosen to be representative of the measurement samples obtained at each position, and accordingly, may be selected ones of the measurement samples, or alternatively, may be averages of the measurement samples. The aforementioned modeled index samples may be found from application of a predetermined tool response to the enhanced index samples, which in turn, may be found by iteration. Once the difference has been reduced below some threshold, the relationship between the enhanced index samples and the reference index samples may be used to calculate a deconvolution filter for all of the original measurement samples from the borehole. When applied to the original measurement samples, the deconvolution filter produces measurement samples having an enhanced resolution.
L'invention concerne un procédé destiné à améliorer la résolution de mesure. Dans un mode de réalisation, le procédé consiste à (1) obtenir plusieurs échantillons de mesure à chacune des multiples positions le long d'un forage; (2) extraire des échantillons d'indices de référence du jeu d'échantillons de mesure; (3) déterminer une différence entre chacun des échantillons d'indices de référence et les échantillons d'indices modélisés correspondants; et (4) actualiser un jeu d'échantillons d'indices améliorés sur la base de la différence. De préférence, on choisit les échantillons d'indices représentatifs des échantillons de mesure obtenus à chaque position, les échantillons d'indices sélectionnés pouvant par conséquent être les échantillons de mesure, ou des moyennes des échantillons de mesure. On peut déduire les échantillons d'indices modélisés précités en appliquant une réponse d'instrument prédéterminée aux échantillons d'indices améliorés, lesquels peuvent être déduits par itération. Une fois la différence inférieure à un certain seuil, la relation entre les échantillons d'indices améliorés et les échantillons d'indices de référence permet de calculer un filtre de déconvolution pour tous les échantillons de mesure initiaux provenant du forage. Appliqué aux échantillons de mesure initiaux, le filtre de déconvolution produit des échantillons de mesure à résolution améliorée.
Emery Jamieson Llp
Halliburton Energy Services Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2059550