A self calibration approach for mass spectrometry

Details A self calibration approach for mass spectrometry A self calibration approach for mass spectrometry

G - Physics

01

N

G01N 27/00 (2006.01) H01J 49/00 (2006.01)

Patent

CA 2689417

Methods for analyzing mass spectral data, include acquiring profile mode mass spectral data containing at least one ion of interest whose elemental composition is determined; obtaining a correct peak shape function based on the actually measured peak shape of at least one of the isotopes of the same ion of interest; generating at least one possible elemental composition for the ion of interest; calculating a theoretical isotope distribution for the elemental composition and a theoretical isotope cluster by applying correct peak shape function to the theoretical isotope distribution; comparing quantitatively the corresponding parts of the theoretical isotope cluster to that from acquired profile mode mass spectral data to obtain at least one of elemental composition determination, classification, or quantitation for the ion. A computer for and a computer readable medium having computer readable code thereon for performing the methods. A mass spectrometer having an associated computer for performing the methods.

La présente invention concerne des procédés permettant d'analyser des données de spectrométrie de masse, qui consistent à : acquérir des données de spectrométrie de masse en mode profil contenant au moins un ion d'intérêt dont la composition élémentaire est déterminée; obtenir la bonne fonction de forme de pic à partir de la forme de pic mesurée de l'un au moins des isotopes du même ion d'intérêt; générer au moins une composition élémentaire possible pour le ion d'intérêt; calculer une distribution isotopique théorique pour la composition élémentaire et une grappe isotopique théorique grâce à l'application de la bonne fonction de forme de pic à la distribution isotopique théorique; comparer quantitativement les parties correspondantes de la grappe isotopique théorique à celles obtenues des données de spectrométrie de masse en mode profil acquises afin de parvenir à l'une au moins des applications parmi la détermination, classification ou quantification de la composition élémentaire pour l'ion d'intérêt. L'invention porte aussi sur un ordinateur et un support lisible par ordinateur disposant d'un code lisible par ordinateur destinés à mettre en AEuvre les procédés. L'invention a également trait à un spectromètre de masse associé à un ordinateur afin de mettre en AEuvre les procédés.

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