G - Physics – 06 – K
Patent
G - Physics
06
K
G06K 9/80 (2006.01) G06K 9/00 (2006.01) G06K 9/48 (2006.01) G06K 9/64 (2006.01) G06T 3/60 (2006.01)
Patent
CA 2230626
To provide a stripe pattern system enabling to verify minutia correspondence between a searching stripe pattern and a filed stripe pattern independent of position or direction of the searching strip pattern, correspondence value between them is evaluated by comparing their distances, directions or relations to their each neighboring minutiae by a pairing examination means (16). The most appropriate rotation angle and the most appropriate shifting coordinates for adjusting the searching stripe pattern to the filed stripe pattern is obtained by selecting a most appropriate axial candidate giving the most concentrated coordinate deviations referring to deviation distributions of correspondence values accumulated on a deviation plane memory (18) by applying each axial candidate as the coordinate adjustment reference. Therefore, the most appropriate coordinate adjustment can be performed even when either or both of absolute direction and position cannot be specified, in the invention.
L'invention est un système qui permet de vérifier avec précision la correspondance entre une configuration de lignes explorée et une configuration de lignes stockée dans une mémoire indépendamment de la position ou de l'orientation de cette configuration explorée. Une valeur de correspondance entre ces configurations est établie par une comparaison, au moyen d'un dispositif d'appariement (16), des distances entre les particularités, des orientations de ces particularités ou des relations entre particularités voisines. L'angle de rotation le plus approprié et le décalage le plus approprié des coordonnées pour ajuster la configuration explorée à celle qui est conservée en mémoire sont déterminés par le choix de l'axe le plus approprié pour obtenir les déviations de coordonnées les plus concentrées par rapport aux distributions de déviation des valeurs de correspondance cumulées dans une mémoire à plans de déviation (18) en utilisant chaque axe candidat comme axe de référence d'ajustement des coordonnées. Par conséquent, l'ajustement le plus approprié des coordonnées peut être obtenu avec le système de l'invention même quand il est n'est pas possible de préciser la direction ou la position absolue.
Hiratsuka Seiichi
Hoshino Yukio
Kunikata Junichi
Takahashi Yoshihide
Corporation Nec
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1354173