G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 11/00 (2006.01) G01R 31/3185 (2006.01) H01L 21/66 (2006.01)
Patent
CA 2538113
Disclosed here are systems and methods to enable configuration of functional components in integrated circuits. A present invention system and method can flexibly change the operational characteristics of functional components in an integrated circuit die based upon a variety of factors including manufacturing defects, compatibility characteristics, performance requirements, and system health (e.g., the number of components operating properly). Functional component operational behavior is tested and analyzed at various levels of configuration abstraction and component organization (e.g., topological inversion analysis). The testing and analysis can be performed in parallel on numerous functional components. Functional component configuration related information is presented in a graphical user interface (GUI) at various levels of granularity and in real time. The graphical user interface can facilitate user interaction in recognizing failure patterns, production test tuning and field configuration algorithm adjustment. The testing and analysis information can also be organized in a variety of convenient database formats.
L'invention concerne des systèmes et des procédés qui permettent de configurer des composants fonctionnels dans des circuits intégrés. L'invention concerne un système et un procédé permettant de modifier de façon souple les caractéristiques opérationnels de composants fonctionnels dans une puce de circuit intégré en fonction de divers facteurs comprenant notamment des défauts de fabrication, des caractéristiques de compatibilité, des exigences d'efficacité et de santé du système (par exemple, le nombre de composants fonctionnant correctement). Le comportement opérationnel des composants fonctionnels est soumis à l'essai et analysé à différents niveaux d'abstraction de configuration et d'organisation de composants (par exemple analyse d'inversion topologique). L'essai et l'analyse peuvent être effectués en parallèle sur de nombreux composants fonctionnels. Les informations relatives à la configuration des composants fonctionnels sont présentées dans une interface graphique (GUI) à différents niveaux de granularité en temps réel. Ladite interface graphique peut faciliter l'interaction utilisateur en reconnaissant les motifs défectueux, le réglage d'essai de production et l'ajustement de l'algorithme de la configuration de champ. Les informations en matière d'essai et d'analyse peuvent également être organisées en une diversité de formats de bases de données appropriés.
Diamond Michael B.
Montrym John S.
Nagy Michael B.
Treichler Sean J.
Van Dyke James M.
Marks & Clerk
Nvidia Corporation
LandOfFree
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