G - Physics
01
B
G01B 11/24 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01B 11/255 (2006.01)
Patent
CA 2294185
A calibration system uses error data from an ablation profiler or from a topographer to adjust the operating parameters of a laser ablation system. An ablation profiler, useful in calibrating systems that perform vision correction by ablating corneal tissue, is based on a scanning white light interferometer (SWLI) system. The profiler measures a sample (14) of material that has been ablated and maps the contours of the sample (14) to compare it with a database of desired contours. The SWLI system includes a novel method of controlling the movement of the SWLI's reference surface (22) using an inexpensive electromagnet assembly with a capacitive feedback control system, a pin-hole light source to improve interference patterns, and off-axis positioning of the light source and camera to avoid specular reflections. The system also includes a method of preparing the transparent sample for measurement by applying a rear-surface opaque coating and using front-surface illumination. Alternately, samples can make use of roughened surfaces to provide the required optical properties.
L'invention concerne un système d'étalonnage qui utilise les données d'erreurs d'un profileur d'ablation ou d'un dispositif de topographie pour régler les paramètres de fonctionnement d'un système d'ablation par laser. L'invention concerne également un profileur d'ablation qui sert à étalonner les dispositifs correcteurs de la vision par ablation de tissu cornéen, ce profileur fonctionnant selon un système à interféromètre à balayage de lumière blanche (SWLI: scanning white light interferometer). Le profileur mesure un échantillon (14) de matériau excisé et mappe les contours de cet échantillon (14) pour le comparer à une base de données relative aux contours souhaités. Le système SWLI comprend un nouveau procédé pour commander le déplacement d'une surface (22) de référence du SWLI au moyen d'un ensemble électro-aimant peu coûteux comprenant une commande de rétroaction capacitive, une source lumineuse à trou d'épingle pour améliorer les motifs d'interférence et un positionnement en dehors de l'axe de la source lumineuse et de la caméra pour éviter les réflexions spéculaires. Ce système comprend en outre un procédé pour préparer un échantillon de mesure transparent en appliquant un revêtement opaque derrière la surface et en utilisant une illumination de la surface frontale. Il est également possible d'utiliser des surfaces rugueuses pour obtenir les caractéristiques optiques requises.
Dishler Jon G.
Macpherson David
Dishler Jon G.
Macpherson David
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
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