Adjustable electrical probes for circuit breaker tester

Details Adjustable electrical probes for circuit breaker tester Adjustable electrical probes for circuit breaker tester

G - Physics

01

R

G01R 31/327 (2006.01) G01R 1/067 (2006.01)

Patent

CA 2715884

An electrical probe assembly includes a first probe housing (14) pivotally connected to a base structure (24) and receiving a first probe (18) therein. The first probe is configured to interface with a first contact of an electrical component. A sec-ond probe housing (16) is pivotally connected to the base structure and receives a second probe (20) therein. The second probe is configured to interface with a second contact of the electrical component wherein the first and second contacts have a spatial rela-tionship therebetween. An adjustment mechanism (32) is connected to the first and second housing and configured to indepen-dently adjust an amount of rotation of the each of the housings to accommodate the spatial relationship.

Selon l'invention, un ensemble de sondes électriques comprend un premier logement de sonde (14) connecté pivotant à une structure de base (24) et logeant une première sonde (18). La première sonde est conçue pour servir d'interface avec un premier contact d'un composant électrique. Un deuxième logement de sonde (16) est connecté pivotant à la structure de base et loge une deuxième sonde (20). La deuxième sonde est conçue pour servir d'interface avec un deuxième contact du composant électrique, les premier et deuxième contacts présentant une relation spatiale. Un mécanisme de réglage (32) est connecté au premier et au deuxième logement et est conçu pour régler indépendamment une certaine rotation de chacun des logements pour permettre la relation spatiale.

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