G - Physics – 01 – T
Patent
G - Physics
01
T
G01T 1/36 (2006.01) G01T 1/167 (2006.01)
Patent
CA 2670810
A process of rapid and highly accurate analysis of spectral data, includes both a linear scanning (LINSCAN) method and an advanced peak detection method for pattern recognition. One or both of the methods are used to support the detection and identification of chemical, biological, radiation, nuclear and explosive materials. The spectra of various targets can be analyzed by the two spectral analysis methods. These two methods can be combined for dual confirmation, greater accuracy, and to reduced false positives and false negatives, relative to what can be accomplished by either alone.
Un procédé d'analyse rapide et très précise de données spectrales comportent un procédé de balayage linéaire (LINSCAN) et un procédé de détection de crête avancé pour reconnaissance de schéma. L'un et/ou l'autre des procédés sont utilisés pour la détection et l'identification de matériaux explosifs et nucléaires, de rayonnement, biologiques et chimiques. Les spectres de diverses cibles peuvent être analysés par les deux procédés d'analyse spectrale. Les deux procédés peuvent être combinés pour permettre une confirmation double, une précision plus élevée et pour réduire de faux positifs et de faux négatifs, selon ce qui peut être accompli séparément.
Caulfield H. J.
Frank David L.
Seter Jamie L.
Goudreau Gage Dubuc
Innovative American Technology Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1585592