Apparatus and method for identification of crystals by...

C - Chemistry – Metallurgy – 30 – B

Patent

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C30B 7/00 (2006.01) C30B 30/08 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01) G01N 23/207 (2006.01)

Patent

CA 2424893

The apparatus comprises a crystal growing incubator having opposing first and secind sides. The apparatus also includes an X-ray system which comprises an X- ray source disposed adjacent to the first side of the crystal growing incubator and an X-ray detector disposed adjacent to the second side of the crystal growing incubator. The X-ray source is configured to irradiate crystalline material grown in the crystal growing incubator and the X-ray detector is configured to detect the presence of diffracted X-rays from crystals grown in the crystal growing incubator. The apparatus preferably further comprises a positioner that positions the incubator and the X-ray system relative to each other. Also provided is a method of screening for crystalline material in its in situ growth environment using the above discribed apparatus.

L'appareil selon la présente invention comprend un incubateur de cristallogenèse présentant des premier et deuxième côté opposés, ainsi qu'un système à rayons X qui comprend une source de rayons X placée adjacente au premier côté de l'incubateur de cristallogenèse et un détecteur de rayons X placé adjacent au deuxième côté de l'incubateur de cristallogenèse. La source de rayons X est configurée pour irradier la matière cristalline produite dans l'incubateur de cristallogenèse et le détecteur de rayons X est configuré pour détecter la présence des rayons X diffractés émis par les cristaux ayant poussé dans l'incubateur de cristallogenèse. De préférence, l'appareil comprend également un positionneur qui positionne l'incubateur et le système à rayons X l'un par rapport à l'autre. La présente invention concerne également un procédé de criblage de matière cristalline dans son environnement de croissance <i>in situ</i> au moyen de l'appareil selon l'invention.

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