G - Physics – 01 – D
Patent
G - Physics
01
D
G01D 18/00 (2006.01) G01F 25/00 (2006.01) G01D 5/24 (2006.01) G01F 23/26 (2006.01)
Patent
CA 2629960
An apparatus and method is disclosed for improving the accuracy of measurements taken with a capacitance-type sensor. In addition to the sensor the apparatus comprises a measurement circuit and a microprocessor. One of the sensor or a calibration capacitor with a known and fixed capacitance is connectable to the the measurement circuit by a switch that has its position controlled by the microprocessor. The microprocessor sends measurement signals to the measurement circuit and receives data therefrom. According to the disclosed method, the measurement circuit is programmed to determine an error between measured calibration data and the known capacitance and to use this error to calculate a correction value, which it applies to the measured sensor data to calculate corrected sensor measurements.
Présentation d=un appareil et d=un procédé permettant d=augmenter la précision des mesures prises avec un capteur de type capacitif. En plus du capteur, l'appareil comporte un circuit de mesure et un microprocesseur. Un des capteurs ou un condensateur de calibrage avec une capacité connue et fixe est connectable sur le circuit de mesure au moyen d=un commutateur dont la position est contrôlée par le microprocesseur. Le microprocesseur envoie des signaux de mesure pour le circuit de mesure et en reçoit les données. Selon la méthode divulguée, le circuit de mesure est programmé pour déterminer une erreur entre les données d'étalonnage mesurées et la capacité connue et pour utiliser cette erreur en vue de calculer une valeur de correction, qui s'applique au capteur de mesure pour calculer les mesures du capteur corrigées.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Westport Power Inc.
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1562173