G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/207 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01) G01N 3/06 (2006.01)
Patent
CA 2416687
An apparatus for in situ measurement of residual stresses comprises a compact x-ray tube (104) and a detector. X-rays emitted by the x-ray tube (104) are diffracted from a specimen surface and intercepted by the detector. The intercepted x-rays are converted into light and transferred by a first fiber optic bundle (110) and a second fiber optic bundle (112) to light detection devices (118). Intensities of the received light are digitized by the light detection devices (118) to generate a first ring and a second ring with common centers. The residual stress in the specimen surface is calculated based on a difference between the radii of the first ring and the second ring.
La présente invention concerne un appareil destiné à mesurer les contraintes résiduelles in situ, qui comprend un tube à rayons X compact (104) et un détecteur. Les rayons X émis par le tube à rayons X (104) sont diffractés à partir de la surface d'un échantillon et ils sont interceptés par le détecteur. Les rayons X interceptés sont transformés en lumière et ils sont transférés par un premier faisceau de fibres optiques (110) et un second faisceau de fibres optiques (112) vers des dispositifs de détection de la lumière (118). Les intensités de la lumière reçue sont numérisées par les dispositifs de détection de la lumière (118) de façon que l'on obtient un premier anneau et un second anneau possédant un centre commun. La contrainte résiduelle à la surface de l'échantillon est calculée sur la base de la différence entre le rayon du premier anneau et le rayon du second anneau.
Osler Hoskin & Harcourt Llp
The Penn State Research Foundation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2000842