G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 22/00 (2006.01) G01N 22/02 (2006.01) G01N 33/46 (2006.01)
Patent
CA 2419745
Apparatus (1) for determining material characteristics of an object (2) is provided, the apparatus including at least one microwave sensing system including generating means (3) and transmitting means (4) for generating and transmitting one or more microwave signals on to one or more focal points located substantially on the surface of an object to be measured. The energy or power of microwave signals reflected from the object (2) is detected and at least on measurement value is computed dependent on the refected microwave signals, wherein the measurement value is indicative of one or more material characteristics of the object. Also provided is a method of determining material characteristics of an object inlcuding focussing microwave energy onto the surface of the object and detecting the reflected signals. The apparatus and method may be used to provide a measure of the length of the object and the location of characteristics of the object along its length.
La présente invention concerne un appareil (1) destiné à déterminer des caractéristiques matérielles d'un objet (2). Cet appareil comprend au moins un système de détecteur de micro-ondes comprenant un organe (3) générateur et un organe (4) d'émission permettant de générer et d'émettre un ou plusieurs signaux micro-ondes sur un ou plusieurs foyers situés sensiblement sur la surface d'un objet à mesurer. L'énergie ou la puissance des signaux micro-ondes reflétés par l'objet (2) est détectée et, elle est traitée au moins sur une valeur de mesure en fonction des signaux micro-ondes reflétés. Cette valeur de mesure indique une ou plusieurs caractéristiques de cet objet. Cette invention concerne aussi un procédé de détermination des caractéristiques matérielles d'un objet, qui consiste à concentrer l'énergie micro-onde sur la surface de cet objet et à détecter les signaux reflétés. On peut aussi utiliser cet appareil et ce procédé pour obtenir une mesure de la longueur de l'objet et la localisation de caractéristiques de cet objet sur sa longueur.
Industrial Research Limited
Sim & Mcburney
LandOfFree
Apparatus and method for measuring characteristics of... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Apparatus and method for measuring characteristics of..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Apparatus and method for measuring characteristics of... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1647219