G - Physics – 01 – M
Patent
G - Physics
01
M
G01M 11/02 (2006.01) G02B 5/30 (2006.01) G02B 6/10 (2006.01)
Patent
CA 2409182
Disclosed is an apparatus and method for measuring a changing amount of insertion loss of an optical device depending on a polarization state of an incident light, i.e., a polarization-dependent loss. An incident light that is periodically subject to all polarization states passes through a testing optical device by a polarization scrambler including a piezoelectric element type optical fiber birefringence modulator, and an optical detector measures intensity of the passing light, in which the measured intensity values are averaged for birefringence modulation having a constant period, and then the polarization-dependent loss is computed from a ratio of maximum power to minimum power for the period. Use of the birefringence modulator shortens measuring time, and decreases an affect of external disturbance to the incident light that is incident into the testing optical component or occurrence probability of the external disturbance, so that the polarization- dependent loss can be precisely measured.
Cette invention concerne un dispositif et un procédé permettant de mesurer dans le cas d'un dispositif optique une perte d'insertion de valeur variable dépendant de l'état de polarisation d'une lumière incidente, c'est-à-dire une perte tributaire de la polarisation. Une lumière incidente qui est périodiquement soumise à tous les états de polarisation traverse un dispositif optique d'essai via un brouilleur de polarisation comprenant un modulateur à biréfringence à fibre optique, à élément piézo-électrique, cependant qu'un détecteur optique mesure l'intensité de lal lumière traversante et fait la moyenne des valeurs d'intensité mesurées en terme de modulation de la biréfringence avec préiode constante. On calcule ensuiite la perte dépendant de lal polarisation à partir du rapport entre la puissance maximum et la puissance minimum pour la période considérée. L'emploi d'un modulateur de biréfringence permet d'accélérer les mesures et d'atténuer l'effet d'une perturbation ext¤rieure sur la lumière incidente qui vient frapper lecomposant optique d'essai ou la probabilité de survenue d'une perturbation extérieure, de sorte qu'il est possible de mesurer avec précision la perte dépendant de la polarisation.
Kim Jung-Won
Koh Yeon-Wan
Lee Bong-Wan
Donam Systems Inc.
Ogilvy Renault Llp/s.e.n.c.r.l.,s.r.l.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1507105