G - Physics – 01 – J
Patent
G - Physics
01
J
G01J 5/02 (2006.01) C23C 2/14 (2006.01) G01J 5/08 (2006.01) G01J 5/60 (2006.01) G06F 17/00 (2006.01)
Patent
CA 2192121
Method and apparatus for measuring the surface temperature/emissivity of coated steel strip during a coating (e.g., galvannealing) process. The apparatusincludes first and second radiation sensors each having a response exponentiallyrelated to the reciprocal of absolute temperature when viewing a blackbody source, and each positioned to receive focused radiation from the surface to be measuredto provide first and second signals indicative of the radiation received by the sensor, respectively. To provide the focused radiation, the apparatus includes an optical system for gathering thermal radiation emitted by the surface to be measured and focusing it onto the sensors after a first common filter and secondindividual filters of differing wavelengths such that the first sensor is responsive to shorter wavelengths, the second sensor is responsive to longer wavelengths, and both sensors view the same area simultaneously. Finally, a processing means isprovided for processing the two sensor signals to determine temperature/emissivity. Several variations of the processing means are provided including one which usesa Ratio Correction Factor (RCF) and an apparent emissivity (ECA) for determiningtemperature/emissivity while another one uses a Black Body Deviation Factor (BBDF).
Méthode et appareil pour mesurer la température de surface et l'émissivité des bandes d'acier enduites pendant le procédé d'application d'un enduit (p. ex. : trempage après zingage). L'appareil comporte un premier et un deuxième capteurs de rayonnements, chacun ayant une réaction liée exponentiellement à la valeur inverse de la température thermodynamique au cours de l'observation d'une source de corps noir. Chaque capteur est positionné de façon à recevoir des rayonnements focalisés provenant de la surface devant être mesurée pour produire un premier signal et un deuxième signal indiquant les rayonnements captés par chaque capteur. Pour produire les rayonnements focalisés, l'appareil comporte un système optique pour recueillir les rayonnements thermiques émis par la surface à mesurer et pour les concentrer sur les capteurs après que les rayonnements sont passés par un premier filtre commun, puis des filtres secondaires individuels de différentes longueurs d'ondes de sorte que le premier capteur réagit aux longueurs d'ondes plus courtes, et le deuxième capteur, aux longueurs d'ondes plus longues et que les deux capteurs soient dirigés sur le même secteur simultanément. Finalement, un moyen de traitement est prévu pour traiter les signaux des deux capteurs afin de déterminer la température ou l'émissivité. Plusieurs variantes du moyen de traitement sont divulguées, y compris une qui utilise un facteur de correction du rapport de transformation (RCF) et une émissivité apparente (ECA) pour déterminer la température ou l'émissivité, tandis qu'une autre se sert d'un facteur de déviation du corps noir (BBDF).
Bethlehem Steel Corporation
Cameron Norman M.
Isg Technologies Inc.
LandOfFree
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