G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 1/07 (2006.01) G01R 31/303 (2006.01)
Patent
CA 2412358
A noncontact method and apparatus for testing electrical circuitry which provides large improvements in both resolution and speed. The attributes of noncontact, high resolution, and speed are satisfied by using inexpensive low intensity resonant laser beams in a shroud has preferably comprising rubidium atoms in argon gas to create an electrically conductive ion channel microprobe. The conductive ion channel microprobe can be used to create an electrically conductive path between a circuit's test pad or point and signal generation and detection apparatus. If the circuit's test pad or point is functioning properly, then the ion channel microprobe will complete the electrically conductive path, the signal generation device will produce a signal over the conductive path and the signal detection will detect or measure the signal. If the circuit's test pad or point is malfunctioning, the conductive path will remain open and the signal detection device will not detect a signal.
L'invention concerne un procédé et un appareil sans contact pour tester des circuits électriques avec un résolution nettement plus élevée et de manière beaucoup plus rapide. Les exigences de test sans contact, à haute résolution, et à vitesse élevée sont satisfaites au moyen de rayons laser résonnants, de faible intensité, bon marché, dans une enveloppe de protection de gaz comportant de préférence des atomes de rubidium dans du gaz argon, permettant de créer une microsonde à canal ionique électriquement conductrice. La microsonde à canal ionique peut être utilisée pour créer une voie électriquement conductrice entre un contact ou un point de test de circuit et un appareil d'émission et de détection de signaux. Si le contact ou le point de test de circuit fonctionne convenablement, la sonde à canal ionique ferme la voie électriquement conductrice, le dispositif d'émission de signal produit un signal sur la voie conductrice et le dispositif de détection du signal détecte ou mesure le signal. Si le contact ou le point de test de circuit fonctionne mal, la voie conductrice reste ouverte et le dispositif de détection du signal ne détecte aucun signal.
Bahns John T.
Stwalley William C.
Ridout & Maybee Llp
University Of Connecticut
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1491237