G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/223 (2006.01)
Patent
CA 2713383
An apparatus and a method for X-ray fluorescence analysis of a mineral sample is disclosed. The apparatus comprises an X-ray source (2) for generating an X-ray beam to irradiate the mineral sample; at least one fluorescence detector (4,5) for measuring fluorescent radiation emitted by the mineral sample when irradiated by the X-ray beam; and a processing unit for providing an analysis of the mineral sample based on the measurements made by the at least one fluorescence detector (4,5). Further, the apparatus comprises a sample container (3) arranged to hold the mineral sample during the irradiation, wherein the sample container is arranged to provide at least two different irradiation paths through said mineral sample during irradiation. An advantage with this arrangement is that it enables analysis of elements having a wide range of atomic numbers in a single sample with improved reliability and accuracy. This results in maximized detectability for a wide range of elements, while reducing the number of samples that needs to be prepared. The present invention also leads to simplified sample preparation, and to a faster and more cost-efficient analysis. This makes the apparatus particularly useful for field use.
Linvention concerne un appareil et un procédé pour une analyse par spectrométrie de fluorescence de rayons X dun échantillon minéral. Lappareil comprend une source de rayons X (2) pour générer un faisceau de rayons X pour irradier léchantillon minéral ; au moins un détecteur de fluorescence (4, 5) pour mesurer le rayonnement fluorescent émis par léchantillon minéral lorsquil est irradié par le faisceau de rayons X ; et une unité de traitement pour fournir une analyse de léchantillon minéral basée sur les mesures réalisées par le ou les détecteurs de fluorescence (4, 5). En outre, lappareil comprend un récipient déchantillon (3) agencé pour contenir léchantillon minéral pendant lirradiation. Le récipient déchantillon est agencé pour fournir au moins deux trajets dirradiation différents à travers ledit échantillon minéral pendant lirradiation. Un avantage avec cet agencement est quil permet lanalyse déléments ayant une large plage de nombres atomiques dans un échantillon unique avec une fiabilité et une précision améliorées, ce qui permet une détectabilité maximisée pour une large plage déléments, tout en réduisant le nombre déchantillons qui ont besoin dêtre préparés. La présente invention conduit également à une préparation déchantillon simplifiée, et à une analyse plus rapide et plus rentable, ce qui rend lappareil particulièrement utile pour une utilisation sur site.
Danielsson Fredrik
Kullenberg Ragnar
Oden Erik
Ullberg Anders
Danielsson Fredrik
Fetherstonhaugh & Co.
Kullenberg Ragnar
Oden Erik
Orexplore Ab
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1893622