G - Physics – 01 – M
Patent
G - Physics
01
M
G01M 11/02 (2006.01) B23K 26/067 (2006.01) B23K 26/38 (2006.01) B23K 26/42 (2006.01) G02B 3/08 (2006.01)
Patent
CA 2416026
A laser beam emitted from a laser source is split by a beam-splitting means such as a beam sampler, and the power Q of the split beam is measured by a first detector. In addition, the power q1 of light that has passed through a pinhole while a DOE is not set is measured by a second detector, and the power ratio .alpha. = q1/Q is calculated. Then, the DOE is set and the power ratio .beta.k = q k/Q, where q k is the power of each light beam, is calculated. The power ratio .beta.k is evaluated on the basis of the power ratio .alpha., so the optical properties of a diffractive optical element, in particular, in terms of diffraction efficiency in laser-beam diffraction and intensity uniformity of split beams can be measured with high accuracy.
Un faisceau laser émis par une source laser est partagé par un diviseur de faisceau, tel qu'un échantillonneur de faisceau, et la puissance Q du faisceau divisé est mesurée par un premier détecteur. De plus, la puissance q1 de la lumière qui est passée à travers un trou d'épingle alors qu'un DOE n'a pas été établi est mesurée par un second détecteur, et le rapport de puissance .alpha. = q1/Q est calculé. Ensuite, le DOE est établi et le rapport de puissance .beta.k = q k/Q, où q k représente la puissance de chaque faisceau de lumière, est calculé. Le rapport de puissance .beta.k est évalué en fonction du rapport de puissance .alpha., de sorte que les propriétés optiques d'un élément optique de diffraction, notamment en termes d'efficacité de diffraction dans la diffraction laser et d'uniformité de l'intensité des faisceaux divisés, puissent être mesurées avec une précision élevée.
Marks & Clerk
Sumitomo Electric Industries Ltd.
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1443526