G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/31 (2006.01) A24B 1/04 (2006.01) A24B 3/18 (2006.01) B07C 5/342 (2006.01) G01N 21/35 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01)
Patent
CA 2374153
In an apparatus for and method of detecting a foreign matter in a raw material, plural specified wavelength components of infrared ray or ultraviolet ray are irradiated toward a raw material (T) on a conveyer (2), reflection intensities of the specified wavelength components reflected from the raw material (T) are measured, the measured reflection intensities are compared with reflection intensities of the specified wavelength components inherent to the raw material (T) and, on the basis of the comparison result, the foreign matter is detected.
L'invention porte sur un appareil et un procédé de détection d'une matière étrangère dans une matière première, ce procédé consistant à irradier de plusieurs composantes de longueurs d'ondes spécifiques de rayons infrarouges ou ultraviolets une matière première (T) se trouvant sur une bande transporteuse (2); mesurer les intensités de réflexion des composantes de longueurs d'ondes spécifiques renvoyées par la matière première (T), comparer ces intensités de réflexion mesurées aux intensités de réflexion des composantes de longueurs d'ondes spécifiques inhérentes à la matière première (T), et sur la base de cette comparaison, détecter la matière étrangère.
Futamura Tsuyoshi
Kida Shinzo
Sato Kiyomi
Japan Tobacco Inc.
Robic
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1421174