Apparatus for presenting a sample of material for analysis

Details Apparatus for presenting a sample of material for analysis Apparatus for presenting a sample of material for analysis

G - Physics

01

N

G01N 21/17 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01)

Patent

CA 2456872

An apparatus for presenting a sample of material for analysis by a laser-based analyser comprises a chamber (52), a first window (72) for admitting laser radiation to the chamber (52), sample presentation means (64) for presenting a sample such that said laser radiation can impinge upon the sample, and a plurality of second windows (76, 78, 80, 82) for receiving radiation emitted from the sample, said plurality of second windows (76, 78, 80, 82) adapted to pass radiation emitted from the sample to a plurality of detector means. The apparatus further includes a gas inlet (98) and a gas outlet (100) to enable the atmosphere inside the chamber (52) to be controlled.

L'invention concerne un appareil permettant de présenter un échantillon de matière à analyser, par le biais d'un analyseur laser comprenant une chambre (52), une première fenêtre (72) permettant d'admettre un rayonnement (52), un moyen de présentation d'échantillon (64) permettant de présenter un échantillon, de sorte que ledit rayonnement laser peut empiéter sur l'échantillon, et une pluralité de secondes fenêtres (76, 78, 80, 82) permettant de recevoir le rayonnement émis à partir de l'échantillon, ladite pluralité de secondes fenêtres (76, 78, 80, 82) étant conçues pour passer le rayonnement émis à partir de l'échantillon à une pluralité de moyens de détection. Cet appareil comprend également une entrée de gaz (98) et une sortie de gaz (100) permettant de contrôler l'atmosphère à l'intérieur de la chambre (52).

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