Arrangement for testing telephone subscriber line circuit...

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H - Electricity

04

M

H04M 3/30 (2006.01) H04Q 11/04 (2006.01)

Patent

CA 2203248

A subscriber line circuit test arrangement for a non-metallic (fiber optic) digital communication path-based digital communication network that employs a single (basic rate ISDN) metallic channel unit (BMCU) installed at a site terminating the fiber optic communication path. A BMCU communicates with a central office test system using an auxiliary B-ISDN communication 'test' channel portion (2B+D) of the time division multiplexed digital communication DS0 channels. Digital command and response signals are transported by the two ISDN bearer (B) channels and are coupled directly to tip and ring digital signal processors in the central office test system. The data (D) channel is employed to conduct access, calibration and control communications with the metallic channel unit.

Système de test de circuit d'une ligne d'abonné pour un réseau de communication numérique basé sur une voie de communication numérique non métallique (fibre optique), qui fait appel à une seule (RNIS B) unité à voies unique (BMCU) installée sur un site auquel aboutit le trajet de transmission par fibres optiques. Une unité de BMCU communique avec un système de test du central via une portion "test" (2B+D) de voie auxiliaire RNIS-B des voies DS0 de communication numérique par multiplexage temporel. La commande numérique et les signaux de réponse sont transportés par les deux voies porteuses (B) de RNIS et sont couplés directement à des processeurs de signaux tête-nuque dans le système du test du central. La voie de données (D) permet de mener les opérations d'accès et d'étalonnage, et de gérer les communications avec l'unité à voies métalliques.

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