G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
356/2
G01R 31/28 (2006.01) G06F 11/273 (2006.01) G06F 11/22 (2006.01)
Patent
CA 2019773
Cet agencement de test de carte à circuit imprimé, comporte une carte à circuit imprimé, dite carte de test, apte à être connectée à une carte à circuit imprimé à tester, l'une au moins de ces deux cartes étant équipée de circuits de sélection de type de signaux traités par la carte à tester, aptes à placer celle-ci soit en configuration de test, soit en configuration normale, et la carte de test étant munie d'accès de commande de configuration et équipée de circuits de raccordement de ces accès aux dits circuits de sélection.
Beaufils Jean-Marie
Marot Jean-Loup
Alcatel Cit
Robic
LandOfFree
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