Assisting failure diagnosis in a system

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G - Physics

06

F

G06F 11/00 (2006.01)

Patent

CA 2723737

A method of assisting failure diagnosis in a system includes obtaining (302) data including a probabilistic Bayesian Network describing a set of failures (F1, F2), a set of symptoms (S1, S2, S3) and probabilities of at least some of the symptoms being associated with at least some of the failures in a system. A cost value (C S1) representing a cost associated with learning of a presence or absence of the symptom (S1) is obtained for at least some of the symptoms, as well as a plurality of information values (I S1-F1, I s1-F2), e.g. values representing measures of information gained by learning of the presence or absence of the symptom in relation to a respective plurality of the failures, associated with the symptom. The method then computes (308) an information-for-cost value for the symptom based on the cost value and the plurality of information values.

L'invention porte sur un procédé d'aide au diagnostic de défaillance dans un système. Le procédé consiste à obtenir (302) de données comprenant un réseau bayésien probabiliste décrivant un ensemble de défaillances (F1, F2), un ensemble de symptômes (S1, S2, S3) et des probabilités qu'au moins certains des symptômes sont associés à au moins certaines des défaillances dans un système; obtenir une valeur de coût (CS1) représentant le coût associé à l'apprentissage de la présence ou absence du symptôme (S1) pour au moins certains des symptômes, ainsi qu'une pluralité de valeurs d'informations (IS1-F1, IS1-F2), par exemple des valeurs représentant des mesures d'informations obtenues par apprentissage de la présence ou de labsence du symptôme par rapport à une pluralité respective des défaillances associées au symptôme; à calculer (308) une valeur d'informations pour coût du symptôme en fonction de la valeur de coût et de la pluralité de valeurs d'informations.

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