B - Operations – Transporting – 26 – B
Patent
B - Operations, Transporting
26
B
B26B 9/02 (2006.01) A61B 17/32 (2006.01) B23K 17/00 (2006.01) B23P 15/40 (2006.01) B26B 9/00 (2006.01) B26B 21/54 (2006.01) A61F 9/013 (2006.01)
Patent
CA 2323259
An atomically sharpened cutting edge for a cutting instrument is described. Focused ion beam (FIB) milling provides the atomically sharp cutting edge. In one embodiment, a cutting edge blank is provided and milled by FIB to form an atomically sharp edge. In another embodiment, a metal cutting edge blank is provided, a layer of a harder material is provided on at least one side of the blank and it is milled by FIB to form an atomically sharp edge.
Une arête de coupe atomiquement aiguisée pour une lame à tranchant est décrite. Le fraisage par faisceau ionique focalisé (FIB) procure le bord tranchant à l'échelle atomique. Dans une réalisation, une pièce brute d'un bord de coupe est prévue et fraisée par FIB pour former une lame à tranchant atomiquement. Dans un autre mode de réalisation, une pièce brute métallique de bord de coupe est prévue, une couche d'un matériau plus dur est prévue sur au moins un côté de l'ébauche et elle est fraisée par FIB pour former un bord tranchant à l'échelle atomique.
Dimock Stratton Llp
Hewman Martin H.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1906277