G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 29/26 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2372800
A noise measurement test system is provided for making phase noise measurements of a unit under test (UUT). The noise measurement test system comprises a variable amplifier, a variable low noise source, a variable phase shifter, a mixer, a variable low noise matching amplifier, analog-to-digital converter, a processor and a spectrum analyzer. A first low noise signal, created by the low noise source, is routed through the unit under test and variable amplifier to the mixer. A second low noise signal, also created by the low noise source, is routed through the variable phase shifter to the mixer. The mixer places the received signals in phase quadrature and outputs a measurement test signal which is routed through an analog-to-digital convertor to the processor and spectrum analyzer. The processor includes control links for adjusting the amplifier, low noise source and phase shifter to ensure that the signals received by the mixer are in phase quadrature. The processor also controls the low noise matching amplifier to ensure that there is proper impedance between the mixer and analog-to-digital convertor, and to ensure that the measurement test signal is of sufficient amplification for proper noise testing. In preferred embodiments, the processor provides for automatic control of the test system through an entire test protocol. In additional preferred embodiments, the noise measurement test system provides for calibration signals which vary in amplitude and frequency relative to a carrier signal.
Un système de test de mesure du bruit est utilisé pour effectuer des mesures du bruit de phase d'une unité soumise à un test (UST). Le système de test de mesure du bruit comprend un amplificateur variable, une source de faible bruit variable, un compensateur de phase variable, un mélangeur, un amplificateur d'adaptation de faible bruit variable, un convertisseur analogique-numérique, un processeur et un analyseur de spectre. Un premier signal faible bruit, crée par une source de faible bruit est mis en circulation dans l'unité soumise à un test, traverse l'amplificateur variable puis le mélangeur. Un deuxième signal faible bruit également crée par la source de faible bruit est envoyé dans le compensateur de phase variable puis dans le mélangeur. Ce dernier place les signaux reçus en quadrature de phase et produit un signal de test de mesure qui traverse un convertisseur analogique-numérique avant d'atteindre le processeur et l'analyseur de spectre. Le processeur comprend des liaisons de commande qui permettent de régler l'amplificateur, la source de faible bruit et le compensateur de phase pour assurer que les signaux reçus par le mélangeur sont en quadrature de phase. Le processeur commande également l'amplificateur d'adaptation faible bruit pour assurer que l'impédance est bien appropriée entre le mélangeur et le convertisseur analogique-numérique, et pour assurer que le signal de test de mesure est suffisamment amplifié pour effectuer correctement le test du bruit. Dans des formes de réalisation préférées, le processeur assure la commande automatique du système de test pendant toute la durée d'un protocole de test complet. Dans d'autres formes de réalisation, le système de test de mesure du bruit utilise des signaux d'étalonnage dont l'amplitude et la fréquence varient relativement à un signal de porteuse.
Omniphase Research Laboratories Inc.
Rzyski Eugene
Sim & Mcburney
LandOfFree
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