Automatic iip2 calibration architecture

Details Automatic iip2 calibration architecture Automatic iip2 calibration architecture

H - Electricity

04

B

H04B 1/26 (2006.01) H04B 17/00 (2006.01)

Patent

CA 2675540

An integrated automatic IIP2 calibration architecture for wireless transceivers is disclosed. The architecture enables a wireless transceiver to generate a test radio frequency (RF) signal having a second order tone with minimal additional circuitry. In particular, the test RF signal is generated using a combination of native transceiver circuits and test adaptor circuits. Native transceiver circuits are those circuits implemented on the transceiver chip for executing native transceiver functions during normal operation, which can be used for generating the test (RF) signal. Test adaptor circuits are added to the transceiver chip, more specifically to the native circuits, for enabling the native circuits to generate the test RF signal in a self-test mode of operation. Circuits for implementing a particular IIP2 minimizing scheme can be included on the transceiver chip for automatic IIP2 calibration during the self-test mode of operation.

L'invention porte sur une architecture IIP2 d'étalonnage automatique intégrée pour des émetteurs-récepteurs sans fil. Ladite architecture permet à un émetteur-récepteur sans fil de produire un signal de fréquence radio d'essai présentant une tonalité de deuxième séquence avec un minimum de circuits supplémentaires. En particulier le signal RF d'essai est produit à l'aide d'une combinaison de circuits d'émetteur-récepteur d'origine et de circuits d'adaptation pour l'essai. Les circuits émetteurs-récepteurs d'origine sont les circuits de la puce de l'émetteur/récepteur prévus pour le fonctionnement normal et qui peuvent servir à produire le signal d'essai. Les circuits d'adaptation pour l'essai s'ajoutent aux circuits d'origine pour produire le signal RF d'essai en mode d'auto-test. Les circuits de mise en oeuvre d'un schéma minimisant IIP2 particulier peuvent être montés sur la puce d'émetteur-récepteur d'étalonnage automatique IIP2 pendant le fonctionnement en mode d'auto-test.

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